Корзина
0
Корзина
0
Добавьте в корзину товаров ещё на 600 гривен, чтобы БЕСПЛАТНО получить товар по Украине до отделения Новой почты.

Ваша корзина пустая

Меню
Купить Микроскопические методы исследования материалов

Микроскопические методы исследования материалов

210 грн
210 грн
Нет в наличии
Описание
За последние десятилетия в области материаловедения был совершен огромный скачок вперед. Одновременно очень быстро развивались и oптические методы исследования материалов. В компьютерной микроскопии произошли столь значительные изменения, что появилась потребность в книге, описывающей возможности новейших оптических микроскопов, используемых для исследования конструкционных материалов. В книге рассматриваются основы оптической микроскопии, описываются методы оптических исследований, как классические (методы темного поля и интерференционная микроскопия), так и новейшие, а также неоптические - например, акустические и рентгеновские. Рассматривается построение двумерного изображения на основе трехмерного массива данных и методы преобразования цифрового изображения на компьютере, изучается работа конфокального лазерного сканирующего микроскопа, приводятся примеры трехмерной реконструкций структуры композитов. Книга будет полезна ученым, специалистам в области материаловедения, аспирантам.

Микроскопические методы исследования материалов

Купить Микроскопические методы исследования материалов
Артикул : 22062
Издательство : Техносфера
Автор : Кларк Э.Р.,Эберхардт К.Н.
ISBN13 : 978-5-94836-121-5
Формат : 70х100/16
EAN13 : 9785948361215
Страниц : 376
Год издания : 2007
Тип переплета : Твердый

Описание
За последние десятилетия в области материаловедения был совершен огромный скачок вперед. Одновременно очень быстро развивались и oптические методы исследования материалов. В компьютерной микроскопии произошли столь значительные изменения, что появилась потребность в книге, описывающей возможности новейших оптических микроскопов, используемых для исследования конструкционных материалов. В книге рассматриваются основы оптической микроскопии, описываются методы оптических исследований, как классические (методы темного поля и интерференционная микроскопия), так и новейшие, а также неоптические - например, акустические и рентгеновские. Рассматривается построение двумерного изображения на основе трехмерного массива данных и методы преобразования цифрового изображения на компьютере, изучается работа конфокального лазерного сканирующего микроскопа, приводятся примеры трехмерной реконструкций структуры композитов. Книга будет полезна ученым, специалистам в области материаловедения, аспирантам.

Цитаты пользователей

Всего цитат
0

Только зарегистрированные пользователи могут оставлять комментарии. Войдите, пожалуйста.

Отзывы

Отзывы
0 рецензий

Только зарегистрированные пользователи могут оставлять комментарии. Войдите, пожалуйста.

Параметры

Артикул : 22062
Издательство : Техносфера
Автор : Кларк Э.Р.,Эберхардт К.Н.
ISBN13 : 978-5-94836-121-5
Формат : 70х100/16
EAN13 : 9785948361215
Страниц : 376
Год издания : 2007
Тип переплета : Твердый
Все права защищены © 2003-2018 Bookzone.com.ua              Условия использования | Политика конфиденциальности